QUY TRÌNH HIỆU CHUẨN PANME

MICROMETER CALIBRATION

PAN-ME

1. Giới thiệu và mô tả

   1. Quy trình này mô tả quá trình hiệu chuẩn của Pan-me.

   2. Quy trình này chỉ bao gồm những phép kiểm tra cần thiết. Bất kỳ những trục trặc nào được nhận biết trong quá trình hiệu chuẩn, phải được kiểm tra và sửa chữa một cách cụ thể.

Bản 1.   Mô tả chi tiết: thiết bị cần hiệu chuẩn ( TI )

2. Chuẩn sử dụng

3.       Nguyên lý vận hành

3.1     Đọc kỹ hướng dẫn sử dụng trong toàn bộ quy trình này trước khi tiến hành hiệu chuẩn.

3.2     Làm sạch tất cả các bề mặt quan trọng của TI.

3.3     Cho phép TI ổn định ở phòng nhiệt độ khoảng 2 giờ đối với Pan-me có độ phân giải  0.001 in và 4 giờ ơ độ phân giải 100 µin.

3.4     Đưa Pan-me về zero nếu có thể.

4.       Quy trình hiệu chuẩn

4.1     Hiệu chuẩn độ phẳng  Flatness ( loại kẹp )

4.1.1  Đặt đầu anvil cua TI dưới đèn monochromatic. Đặt Optical Flat lên bề mặt đo của Anvil và xác định độ phẳng Flatness. Bước này không yêu cầu Anvil hình tròn hay hình nón.

4.1.2  Làm tương tự như bước trên đối với bề mặt đo con quay ( spindle )

4.1.3  Bề mặt đo anvil và spindle cua TI phải nằm trong 50, 80, 100 µin.

4.2     Hiệu chuẩn độ phẳng Flatness ( đo sâu )

4.2.1  Đối với kiểu đo sâu có độ phân giải 100 µin, sử dụng đèn monochromatic và Optical Flat để đo độ phẳng.

4.2.2  Đối với loại có độ phân giải 0.001 in, đặt TI lên căn mẫu như hình 1A. Ghi lại chỉ thị.

4.2.3  Đặt TI lên 2 miếng căn mẫu như hình 1B. Chỉ thị phải nằm trong khoảng 0.001 in.

Hình 1B

4.3 Hiệu chuẩn song song ( Thang đo 0 đến 1 in và độ phân giải ≥ 100 µin

4.3.1  Vặn một optical parallel đến đầu anvil của TI. Đặt TI dưới đèn monochromatic. Những vân trên anvil của TI hoặc là biến mất hoặc là có hình vòng cung. Đọc và ghi lại số vân này.Giá trị này phải nhỏ hơn độ phân giải của TI.

4.3.2  Sử dụng một Master Ball cỡ thích hợp thực hiện 4 phép đo ở bốn điểm khác nhau trên anvil và spindle của TI. Sự khác biệt của bốn điểm này không được nhiều hơn độ phân giải của TI.

4.4     Hiệu chuẩn tuyến tính ( kiểu kẹp )

4.4.1  Đưa TI về chỉ thị zero hoặc kiểm tra chỉ số ban đầu không được lớn hơn 1 vạch ( division )

4.4.2  Cho phép căn mẫu ổn định một giờ đối với những kích cỡ lớn hơn 8 in.

4.4.3  Chọn 4 điểm hiệu chuẩn khoảng 25%, 50%, 75%, 100%.

4.4.3  Sử dụng TI đo chiều cao của 4 miếng căn mẫu này và kiểm tra kết quả.

4.5     Hiệu chuẩn tuyến tính ( kiểu đo sâu )

4.5.1  Chọn những căn mẫu thích hợp để hiệu chuẩn khoảng 25%, 50%, 75%, 100%.

4.5.2  Đặt TI lên trên bàn đá và hiệu chỉnh về Zero.

4.5.3  Đặt một miếng căn mẫu thích hợp lên trên bàn đá chuẩn. Đặt TI lên đỉnh của căn mẫu và ghi lại chỉ thị. Chỉ số này phải nằm trong 1 vạch của TI.

4.5.4  Lặp lại bước trên 4.5.3 với những điểm hiệu chuẩn khác.

4.5.5  Kiểm tra kết quả và hiệu chỉnh lại nếu sai số vượt ra ngoài phạm vi cho phép.

Sử dụng những sai số sau đối với những TI không có thông tin chính xác về thông số kỹ thuật.

Độ phân giải 0.001 mm

  mm                                              (68 ± 1)^oF                                      (73 ± 6)^oF

Độ phân giải 0.01 mm

  mm                                              (68 ± 1)^oF                                      (73 ± 6)^oF